一、產(chǎn)品名稱及型號：硅油涂布量檢測儀EDX-3500

硅油是一種不同聚合度鏈狀結(jié)構(gòu)的聚有機(jī)硅氧烷。它是由二甲基二氯硅烷加水水解制得初縮聚環(huán)體，環(huán)體經(jīng)裂解、精餾制得低環(huán)體，然后把環(huán)體、封頭劑、催化劑放在一起調(diào)聚就可得到各種不同聚合度的混合物，經(jīng)減壓蒸餾除去低沸物就可制得硅油。常用的硅油，有機(jī)基團(tuán)全部為甲基，稱甲基硅油。近年來，有機(jī)改性硅油得到迅速發(fā)展，出現(xiàn)了許多具有特種性能的有機(jī)改性硅油。硅油具有很好的耐熱性、電絕緣性、耐候性、疏水性、生理惰性和較小的表面張力，此外還具有低的粘溫系數(shù)、較高的抗壓縮性）有的品種還具有耐輻射的性能。

離型膜的硅涂布量是生產(chǎn)過程中質(zhì)量控制的一個重要方面，涂覆太多，則影響成本。涂覆太少，則粘合層將地粘在基底上。硅油涂布量檢測儀EDX-3500利用x射線熒光光譜分析技術(shù)原理對表面涂布硅含量檢測來達(dá)到涂布量的生產(chǎn)過程控制，是一種經(jīng)濟(jì)有效的手段。

二、測 試 原 理

通過軟件程序控制，讓 X 射線發(fā)生路產(chǎn)生適合的 X 射線去激發(fā)測試薄膜材料中的 Si 或者其他元素，被 X 射線激發(fā)后變?yōu)椴?穩(wěn)定態(tài)，高能層的電子會躍遷到空穴并同時釋放特定能量被探測器接收，因每個元素都有自已特定的能量特征線，通過探測器的識別，計算機(jī)軟件的計算，即可準(zhǔn)確識別該元素，并計算出含量。

儀器采用了大面積的晶體硅漂移探測器，分辨率能夠達(dá)到 125eV, 能分辨Al(鋁)元素和 Si(硅) 元素。

三、技 術(shù) 特 點(diǎn)

· 測試采用X射線熒光光譜原理，測試過程無需耗材

· 光管垂直照射，硅元素性能得到更強(qiáng)激發(fā)

· 測試下限好，可準(zhǔn)確測量 0.01g/m2 的涂硅量

· 采用大面積硅漂移探測器，測試結(jié)果極其準(zhǔn)確

· 快速采用新的模型算法，大大提高了輕元素的測量穩(wěn)定性

· 配置高清液晶顯示器，測試過程和測試結(jié)果一目了然

· 設(shè)備集成多個 usb 接口 , 數(shù)據(jù)和通訊傳輸滿足多種要求

· 空氣光路內(nèi)部環(huán)境得到顯著優(yōu)化，大氣環(huán)境一樣可以直接測試

· 一鍵測試 / 操作簡單智能，測試過程使用時間更短，結(jié)果更準(zhǔn)確

四、技 術(shù) 參 數(shù)

分析范圍：1ppm~100%

精度：RSD≤0.05%  Au≥90%

光管管流：0-1000uA

探測器：美國進(jìn)口Amptek探測器SDD

高壓電源：0-50KV

光管電壓：5-50KV/可選進(jìn)口光管

分辨率：129±5ev

測試時間：30-100s

五、產(chǎn) 品 優(yōu) 勢

六、應(yīng) 用 領(lǐng) 域

各種薄膜、淋膜、離型膜等硅油涂布量的測定

各種薄膜生產(chǎn)過程中Si/Al元素等比量的測定

電子產(chǎn)品保護(hù)膜硅油殘余量的測定

電子產(chǎn)品硫化物的殘留量的測定

離型劑研發(fā)過程中的應(yīng)用

1. 通過測試涂布量，探索離型涂層的離型力與涂布量的關(guān)系

2. 借助硅涂布量測試儀，可以測試離型涂層的萃取率，研究離型劑產(chǎn)品的固化情況

3. 控制某一個確定的涂布量值，探索其他因素對離型涂層性能的影響

4. 有機(jī)硅離型劑出廠前的檢測以及客戶涂布的離型劑紙（膜）的質(zhì)量監(jiān)測

硅油涂布量檢測儀EDX-3500